科學研究：

研究方向：

主要從事VLSI測試、可靠設計、模擬驗證、可信計算領域的應用基礎研究工作。

承擔科研項目情況：

承擔國家自然科學基金、國家973和863等多個研究項目、龍芯CPU設計驗證與測試等工程項目。

1． 國家863項目：可信計算平臺軟硬件系統安全測試評估模型、測試方法以及測試自動化技術，2007年7月-2010年12月。

2． 國家863項目：并發多線程可重構全程通用網絡處理器芯片設計，2003年7月-2005年10月。

3． 國家973課題：高性能處理芯片的設計驗證與測試，2005年12月-2010年12月。

4． 國家自然科學基金面上項目：避免過度測試的時延測試方法，2008年1月-20010年12月。

5． 國家自然科學基金面上項目：面向串擾的時延測試，2007年1月-2009年12月。

6． 國家自然科學基金重點課題：從行為級到版圖級的設計驗證與測試生成，2003年1月-2006年12月。

7． 國家自然科學基金主任基金：系統芯片中時延測試及定時分析的層次化方法，2002年11月-2004年11月。

科研成果：

1． 軟硬件協同的低功耗系統設計 李曉維; 趙榮彩; 徐勇軍; 韓銀和; 駱祖瑩; 何蓉暉; 劉國華; 范東睿; 陳治國; 蔣敬旗; 李華偉; 高光榮 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2004-01-01

2． 內置自測試自動綜合技術的研究 李曉維; 何蓉暉; 呂濤; 李華偉; 駱祖瑩; 宮云戰; 張英相; 藤原秀雄; 趙海燕; 李發春; 王宏偉 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2002-12-01

3． 集成電路邏輯測試與驗證基礎技術研究 李曉維; 宮云戰; 向東; 李華偉; 何新華; 王仲; 石茵; 崔曉天; 魏道政 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2001-12-01

4． 數字電路實速檢測和故障診斷技術及其應用 李曉維; 李華偉; 韓銀和; 胡瑜; 徐勇軍; 閔應驊; 沈理; 呂濤; 李佳; 高建良; 鄢貴海; 付斌章 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2006-01-23

5． 高性能通用CPU芯片研制龍芯1號 唐志敏; 胡偉武; 張志敏; 李曉維; 陳嵐; 王劍; 許彤; 黃令儀; 李華偉; 趙繼業; 范寶峽; 鄭保建; 鐘石強; 張福新; 安虹; 周旭; 王海霞; 李祖松; 范東睿; 鄭為民; 程曉東; 梅張雄; 張同新; 李文; 張珩; 王海洋; 馮雷; 劉華平; 葛亮; 王林楠; 左紅軍; 蔣見花; 陳守順; 楊旭; 高翔; 劉國華; 王卓昊; 蔣敬旗 【科技成果】中國科學院計算技術研究所; 中國科學院微電子中心 2002-09-22

6． 容錯計算基礎技術研究 閔應驊; 李忠誠; 李曉維; 李華偉; 高峰; 于瀟洋; 趙瑞蓮; 李立健; 駱祖瑩; 尹志剛; 劉國華; 張榕 【科技成果】中國科學院計算技術研究所; 航天工業總公司502所; 湖南大學; 同濟大學 2002-05-24

7． GODSON CPU設計與驗證系統 唐志敏; 胡偉武; 張志敏; 王劍; 許彤; 趙繼業; 范寶峽; 鄭保建; 鐘石強; 王海霞; 周旭; 王海洋; 馮雷; 劉華平; 葛亮; 張福新; 王卓昊; 李祖松; 范東睿; 李曉維; 李華偉; 劉國華; 吳少剛; 胡明昌 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2001-10-10

8． 超并行(HPP)體系結構的若干關鍵技術研究 孫凝暉; 章隆兵; 李曉維; 陳明宇; 馬捷; 陳莉; 孫毓忠; 劉淘英; 李華偉; 胡瑜; 韓銀和; 高翔; 黃琨; 張文力; 譚光明; 包云崗; 許建衛; 袁清波; 劉雷; 張興亮; 李恒杰; 商磊; 臧洪永; 李亞瓊; 宋瑩; 楊亞軍; 李如豹; 汪浩 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2008-11-21

9． 面向串擾的時延測試方法 李華偉; 張旻晉; 張穎; 鄢貴海; 王達 【科技成果】中國科學院計算技術研究所 2010-02-01

10． 高性能處理器的設計驗證與測試方法 李華偉; 韓銀和; 呂濤; 邊計年; 李曉維; 張旻晉; 付祥; 鄧澍軍; 王天成 【科技成果】中國科學院計算技術研究所; 清華大學 2010-10-26

11． 數字芯片測試技術研究 梁華國; 李曉維; 李華偉; 陳田; 胡瑜; 歐陽一鳴; 韓銀和; 蔣翠云; 易茂祥; 張磊; 王偉; 黃正峰; 李揚 【科技成果】合肥工業大學; 中國科學院計算技術研究所 2011-02-15

發明專利：

1． 基于測量漏電變化的在線電路老化預測方法 韓銀和; 靳松; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2012-05-02

2． 一種基于靜態分析的RTL設計錯誤檢測方法和系統 馬麗麗; 呂濤; 李華偉; 李曉維; 段永顥; 張金巍 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2011-05-11

3． 信號穩定性檢測器及時延測試裝置 裴頌偉; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2011-10-19

4． 老化預測和超速時延測試雙功能的系統及方法 靳松; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2010-10-06

5． 一種虛擬網絡系統及其實現方法 付斌章; 張飛飛; 韓銀和; 劉彤; 鄢貴海; 李華偉 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2007-08-01

6． 一種可靠片上總線的設計方法和系統及其工作方法 張穎; 李華偉; 李曉維; 胡瑜 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2008-07-23

7． 電路時延測試方法 李華偉 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2002-07-31

8． 一種線間串擾減速效應的時延測試生成方法 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2005-01-12

9． 一種使用分段壓縮表實現最長前綴地址路由查找的方法 徐宇鋒; 李華偉; 宮曙光; 劉彤 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2005-03-02

10． 一種基于MIPS指令集的處理器的多線程方法和裝置 劉彤; 李華偉; 張飛飛; 徐宇峰; 宮曙光; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2005-03-16

11． 一種網絡處理器的數據包接收接口部件及其存儲管理方法 宮曙光; 李華偉; 徐宇峰; 劉彤; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2005-03-16

12． 標志集合式兩維報文分類及查找方法和設備 劉彤; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2006-10-25

13． 一種網絡處理器中維護IP分組出入順序的方法 徐宇鋒; 李華偉 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2007-05-16

14． 一種用于網絡處理器的差額權重排隊調度裝置及調度方法 宮曙光; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2007-05-30

15． 一種實現無回溯的最長前綴匹配搜索的方法和裝置 張飛飛; 鄢貴海; 付斌章; 李華偉; 韓銀和; 劉彤; 雷韶華 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2007-07-11

16． 一種網絡處理器上的差額權重排隊調度部件 宮曙光; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2007-03-28

17． 一種容錯存儲器及其糾錯容錯方法 王達; 胡瑜; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2009-04-22

18． 一種高可靠片上網絡路由器系統及其設計方法 張穎; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2008-12-31

19． 針對片上網絡系統的虛擬測試總線電路及其測試方法 付斌章; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2009-11-25

20． 一種片上通路時延測量電路及方法 裴頌偉; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2010-05-12

21． 用于部分增強型掃描時延測試的觸發器選擇方法及系統 裴頌偉; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2010-05-12

22． 超速時延測試系統及測試方法 裴頌偉; 李華偉; 李曉維 【中國專利】中國科學院計算技術研究所 2010-06-30

論文專著：

在IEEE Trans. on VLSI，J. Electron. Test.，《計算機學報》等國內外刊物和IEEE ITC, VTS, DATE等著名國際學術會議上發表論文100余篇（其中SCI收錄15篇，EI收錄70篇以上）。

出版專著：

1 Huawei Li, Dawen Xu, Yinhe Han, K.-T. Cheng, Xiaowei Li, “nGFSIM: A GPU-Based 1-to-n-Detection Fault Simulator and its Applications,” Proc. IEEE 41st International Test Conference (ITC’10), Paper 12.1, Austin, USA, Oct. 2010.

2 Huawei Li, Peifu Shen, and Xiaowei Li, “Robust Test Generation for Crosstalk-Induced Path Delay Faults,” 24th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’06), Berkeley, CA, USA, May 2006.

3 Huawei Li, and Xiaowei Li, “Selection of Crosstalk-induced Faults in Enhanced Delay Test,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Vol. 21, No.2, 2005, pp.181-195.

4 Huawei Li, Yue Zhang, and Xiaowei Li, “Delay Test Pattern Generation Considering Crosstalk-induced Effects,” IEEE 12th Asian Test Symposium (ATS’03), Xi’an, China, Nov. 2003, pp.178-183.

5 Huawei Li, Zhongcheng Li, and Yinghua Min, “Reduction of Number of Paths to be tested in Delay Testing,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Vol.16, No.5, Oct. 2000, pp. 477-485.

6 Huawei Li, Zhongcheng Li, and Yinghua Min, "Delay Testing with Double Observations," IEEE 7th Asian Test Symposium (ATS’98), Singapore, Dec. 1998, pp. 96-100.

7 Ying Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, Yu Hu, “Codeword Selection for Crosstalk Avoidance and Error Correction on Interconnects,” IEEE 26th VLSI Test Symposium (VTS’08), San Diego, CA, USA, April 2008, pp.377-382.

8 Minjin Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Multiple Coupling Effects Oriented Path Delay Test Generation,” IEEE 26th VLSI Test Symposium (VTS’08), San Diego, CA, USA, April 2008, pp.383-388.

9 Minjin Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Static Crosstalk Noise Analysis with Transition Map,” 4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Delta’08), Hongkong, Jan. 2008, pp.462-465.

10 Xiang Fu, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “Robust Test Generation for Power Supply Noise induced Path Delay Faults”, Proc. of 13th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC’08), Seoul, Korea, Jan. 2008, pp.659-662.

11 Hui Liu, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “A Scan-Based Delay Test Method for Reduction of Overtesting,” 4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Delta’08), Hongkong, Jan. 2008, 521-526

12 Peifu Shen, Huawei Li, Yongjun Xu, and Xiaowei Li, “Non-robust Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults,” Proc. Of 14th IEEE Asian Test Symposium (ATS’05), Calcutta, India, 2005, pp.120-123.

13 Xiang Fu, Huawei Li, Xiaowei Li, “Testable Critical Path Selection Considering Process Variation,” IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E93-D, No.1, 2010, pp.59-67.

14 Ying Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Selected Crosstalk Avoidance Code for Reliable Network-on-Chip,” Journal of Computer Science and Technology, Vol. 24, No. 6, 2009, pp.1074-1085.

15 Songwei Pei, Huawei Li, Xiaowei Li “Flip-flop Selection for Transition Test Pattern Reduction Using Partial Enhanced Scan,” Proc. IEEE 15th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC’09), 2009, pp.75-80.

16 Zijian He, Tao Lv, Huawei Li, Xiaowei Li, “Fast Path Selection for Testing of Small Delay Defects Considering Path Correlations”, Proc. IEEE 28th VLSI Test Symposium (VTS’10), San Diego, California, USA, April 2010, pp.3-8.

17 Songwei Pei, Huawei Li, Xiaowei Li, “An On-Chip Clock Generation Scheme for Faster than-at-Speed Delay Testing”, Proc. of DATE 2010, Germany, pp.1353-1356.

18 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Clustering of Behavioral Phases in FSMs and its Applications to VLSI test,” Science In China, Serial F, Vol. 45, No.6, 2002, pp. 462-478.

19 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “An RT-level ATPG Based on Clustering of Circuit States,” IEEE 10th Asian Test Symposium, Japan, Nov. 2001, pp.213-218.

20 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Refinement of Finite-State Machines,” 7th International Conf. on Computer-Aided Design and Computer Graphics, 2001.

21 Zhigang Yin, Yinghua Min, Xiaowei Li, and Huawei Li, “A Novel RT-Level Behavioral Description Based ATPG Method,” Journal of Computer Science and Technology, Vol.18, No.3, 2003, pp.308-317.

22 Yinhe Han, Yu Hu, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra, “Embedded Test Decompressor to Reduce the Required Channels and Vector Memory of Tester for Complex Processor Circuit”, IEEE Transactions on VLSI System, May 2007, Vol.15, No.5, pp.531-540.

23 Yinhe Han, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra, “Embedded Test Resource for SoC to Reduce Required Tester Channels Based on Advanced Convolutional Codes,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol.55, No.2, April, 2006, pp.389-399.

24 Yinhe Han, Huawei Li, Xiaowei Li, Anshuman Chandra, “Response Compaction for system-on-a-chip Based on Advanced Convolutional Codes,” Science In China, Serial F, Vol.49, No.2, 2006, pp.262-272.

25 Yinhe Han, Yu Hu, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra and Xiaoqing Wen, "Wrapper Scan Chains Design for Rapid and Low Power Testing of Embedded cores", IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E88-D, No.9, 2005, pp.2126-2135.

26 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Evaluation of Dispersity Routing Strategies in Anonymous Communication,” The 2004 Joint Conference of the 10th Asia-Pacific Conference on Communications and the 5th International Symposium on Multi-Dimensional Mobile Communications, Beijing, China, 2004, pp. 534-538.

27 Tao Lv, Huawei Li, Xiaowei Li, "Automatic selection of internal observation signals for design verification," Proc. IEEE 27th VLSI Test Symposium(VTS’09), Santa Cruz, USA, May, 2009, pp. 203-208.

28 Da Wang, Xiaoxin Fan, Xiang Fu, Hui Liu, Ke Wen, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “The Design-for-Testability Features of A General-Purpose Microprocessor,” IEEE 38th International Test Conference 2007 (ITC’07), Santa Clara, California, USA, Paper 9.3, Oct. 2007.

29 Shuguang Gong, Huawei Li, and Xiaowei Li, “An Innovative Free Memory Design for Network Processors in Home Network Gateway,” IEEE Transactions on Consumer Electronics, Vol.51, No.4, Nov. 2005, pp.1182-1187.

30 Tao Lv, Tong Xu, Yang Zhao, Huawei Li, Xiaowei Li, “Bug Analysis and Corresponding Error Models in Real Designs,” Proc. of IEEE HLDVT 2007, USA, Nov. 2007.

31 Fei Wang, Yu Hu, Huawei Li, Xiaowei Li, Yu Huang, Jing Ye, “Deterministic Diagnostic Pattern Generation for Compound Defects,” Proc. IEEE International Test Conference 2008 (ITC’08), Santa Clara, California, USA, Paper 14.1, Oct. 2008.

32 Lei Zhang, Yinhe Han, Qiang Xu, Xiaowei Li, Huawei Li, "On Topology Reconfiguration for Defect-Tolerant NoC-Based Homogeneous Manycore Systems", IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.17, Sept. 2009, pp.1173-1186.

發表中文論文：

1 基于輸出違例概率的時延向量測試質量評估 王杰; 梁華國; 李華偉; 閔應驊; 李曉維 合肥工業大學計算機與信息學院; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室中國科學院計算技術研究所 【中國會議】第六屆中國測試學術會議論文集 2010-07-24

2 面向高可靠片上網絡通信的低成本可重構路由算法 付斌章; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所系統結構重點實驗室; 中國科學院研究生院 【中國會議】第六屆中國測試學術會議論文集 2010-07-24

3 采用SCAC和DICE觸發器的可靠片上網絡路由器 張穎; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國中國科學院研究生院 【中國會議】第六屆中國測試學術會議論文集 2010-07-24

4 ESDQL:一種評估小時延缺陷覆蓋率的度量標準 朱雪峰; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第十四屆全國容錯計算學術會議(CFTC'2011)論文集 2011-07-30

5 數字集成電路設計錯誤的靜態檢測系統 楊志; 呂濤; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中科院計算所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第十四屆全國容錯計算學術會議(CFTC'2011)論文集 2011-07-30

6 一種面向差錯容忍應用的數字系統故障關鍵性評估方法 方運潭; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第十四屆全國容錯計算學術會議(CFTC'2011)論文集 2011-07-30

7 考慮串擾影響的時延測試 張月; 李華偉; 宮云戰; 李曉維 裝甲兵工程學院信息工程系; 中國科學院計算技術研究所網絡室; 中國科學院計算技術研究所網絡室 【中國會議】第十屆全國容錯計算學術會議論文集 2003-09-01

8 芯片的失效分析及基于其的測試調度技術 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第十屆全國容錯計算學術會議論文集 2003-09-01

9 考慮內部分枝的狀態覆蓋方法 楊修濤; 魯巍; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 【中國會議】全國第13屆計算機輔助設計與圖形學（CAD/CG）學術會議論文集 2004-08-01

10 針對線間串擾現象的靜態定時分析 沈培福; 李華偉 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室 【中國會議】第三屆中國測試學術會議論文集 2004-10-01

11 基于指令集的處理器時延測試產生方法 方紅霞; 李華偉; 李曉維 國科學院計算技術研究所信息網絡室; 國科學院計算技術研究所信息網絡室 【中國會議】第三屆中國測試學術會議論文集 2004-10-01

12 基于對平衡的SOC測試調度算法 胡瑜; 韓銀和; 李華偉; 呂濤; 李曉維 中科院計算技術研究所信息網絡室; 中科院研究生院; 中科院計算技術研究所信息網絡室 【中國會議】第三屆中國測試學術會議論文集 2004-10-01

13 面向存儲器核的內建自測試 檀彥卓; 徐勇軍; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院研究生院 【中國會議】第三屆中國測試學術會議論文集 2004-10-01

14 掃描測試結構中測試響應壓縮電路設計 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第三屆中國測試學術會議論文集 2004-10-01

15 一種嵌入式存儲器的內建自修復機制 付祥; 王達; 李華偉; 胡瑜; 李曉維 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室 【中國會議】第四屆中國測試學術會議論文集 2006-08-01

16 時延測試在一款通用微處理器上的應用 劉慧; 胡瑜; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室 【中國會議】第四屆中國測試學術會議論文集 2006-08-01

17 一種用于片上容錯通信的隨機路由算法 張磊; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所計算機系統結構重點實驗室先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所計算機系統結構重點實驗室先進測試技術實驗室 【中國會議】第四屆中國測試學術會議論文集 2006-08-01

18 基于片內PLL實速掃描測試的實現 范小鑫; 李華偉; 胡瑜; 李曉維 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室 【中國會議】第四屆中國測試學術會議論文集 2006-08-01

19 VLSI/SOC測試中的功耗主題—挑戰性問題和現有解決方法 李華偉; 溫曉青; 向東; 徐強; 王智弘; 李昂 中科院計算所; 日本九州工業大學; 清華大學; 香港中文大學; Verigy（上海）; Synopsys 【中國會議】第五屆中國測試學術會議論文集 2008-05-01

20 面向最大串擾噪聲的測試生成方法 張旻晉; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所系統結構重點實驗室; 中國科學院研究生院 【中國會議】第五屆中國測試學術會議論文集 2008-05-01

21 針對片上網絡(NoC)芯片的單向虛擬測試總線 付斌章; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所系統結構重點實驗室; 中國科學院研究生院 【中國會議】第五屆中國測試學術會議論文集 2008-05-01

22 SOC總線串擾的精簡MT測試集 張穎; 李華偉; 李曉維; 胡瑜 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【中國會議】第五屆中國測試學術會議論文集 2008-05-01

23 面向高可靠片上網絡通信的可重構路由算法 付斌章; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2011-03-15

24 基于SAT的快速電路時延計算 何子鍵; 呂濤; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2011-03-15

25 用于RTL設計驗證的靜態錯誤檢測方法 馬麗麗; 呂濤; 李華偉; 張金巍; 段永顥 湘潭大學信息工程學院; 中國科學院計算技術研究所計算機系統結構重點實驗室; 北京控制工程研究所 【期刊】計算機工程 2011-06-20

26 基于輸出違例概率的時延向量測試質量評估 王杰; 梁華國; 李華偉; 閔應驊; 李曉維 合肥工業大學計算機與信息學院電子科學與應用物理學院; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室中國科學院計算技術研究所 【期刊】電子學報 2011-05-15

27 高性能處理芯片的測試和可靠性設計關鍵技術 李曉維; 李華偉; 韓銀和; 胡瑜 中國科學院計算技術研究所 【期刊】中國質量 2012-06-01

28 面向最大串擾噪聲的測試生成方法 張旻晉; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2009-04-15

29 SoC總線串擾的精簡MT測試集 張穎; 李華偉; 李曉維; 胡瑜 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2009-04-15

30 基于CLP模型的HDL設計可觀測性分析 趙陽; 呂濤; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2009-05-15

31 無界模型檢驗中融合電路信息的SAT算法研究 趙陽; 呂濤; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機學報 2009-06-15

32 基于CGF的直升機編隊仿真技術 李華偉; 陳立云; 靳萌 軍械工程學院計算機工程系 【期刊】四川兵工學報 2009-07-25

33 基于本體的信息可信度研究 鐘誠; 趙志峰; 李華偉; 楊珍 鎮江船艇學院計算機教研室 【期刊】情報雜志 2009-06-30

34 采用部分增強型掃描提高跳變時延故障覆蓋率的觸發器選擇方法 裴頌偉; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2010-09-15

35 組合電路中考慮串擾的布爾過程波形模擬 黃海; 李華偉 湘潭大學信息工程學院; 中國科學院計算技術研究所 【期刊】微計算機信息 2010-11-15

36 時序敏感的3D IC綁定優化方法 王杰; 張磊; 李華偉; 韓銀和; 李曉維; 梁華國 合肥工業大學計算機與信息學院; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室中國科學院計算技術研究所 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2010-11-15

37 考慮工作負載影響的電路老化預測方法 靳松; 韓銀和; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2010-12-15

38 RTL和門級結合的處理器時延測試產生方法 方紅霞; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室 北京; 中國科學院研究生院北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2006-01-30

39 覆蓋狀態內部分枝的測試向量生成 楊修濤; 魯巍; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京; 中國科學院研究生院 【期刊】小型微型計算機系統 2006-04-30

40 基于卷積編碼的SOC測試響應壓縮研究 韓銀和; 李華偉; 李曉維; Anshuman Chandra 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院研究生院; Synopsys Inc; 700 E Middlefield Rd; Mountain View; CA 94043 【期刊】中國科學E輯:信息科學 2006-06-20

41 一種基于子元組劃分的快速兩維包分類算法 劉彤; 李華偉; 李曉維; 宮曙光 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院研究生院北京; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室 【期刊】計算機研究與發展 2006-10-30

42 網絡處理器中處理單元的設計與實現 李誠; 李華偉 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機工程 2007-01-20

43 用于片上網絡的容錯通信算法 張磊; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室 北京; 中國科學院計算技術研究所先進測試技術實驗室; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2007-04-30

44 采用片內PLL實現實速掃描測試的方案 范小鑫; 李華偉; 胡瑜; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所計算機先進測試技術實驗室北京100080中國科學院研究生院北京; 中國科學院計算技術研究所計算機先進測試技術實驗室北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2007-03-30

45 結合ATPG和SAT的無界模型檢驗前像計算方法 劉領一; 趙陽; 呂濤; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院研究生院北京; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所計算機先進測試技術實驗室北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2007-03-30

46 面向串擾時延效應的時序分析方法及在集成電路測試中的應用 張旻晉; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所系統結構重點實驗室; 中國科學院計算技術研究所系統結構重點實驗室; 中國科學院研究生院北京 【期刊】計算機學報 2007-10-15

47 用于邊緣網絡的網絡處理器的設計 張飛飛; 劉彤; 李華偉; 韓銀和; 李曉維 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室 北京; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】微電子學與計算機 2008-01-05

48 一種無回溯的最長前綴匹配搜索算法 張飛飛; 李華偉; 韓銀和 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室; 中國科學院計算機系統結構重點實驗室 北京; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 【期刊】計算機工程 2008-05-20

49 雙閾值CMOS電路靜態功耗優化 徐勇軍; 駱祖瑩; 李曉維; 李華偉 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 清華大學計算機科學與技術系; 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡室 北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2003-03-20

50 一種遵循IEEE 1149.1標準的可測試性設計結構 尹志剛; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】微電子學與計算機 2003-05-25

51 考慮串擾影響的時延測試 張月; 李華偉; 宮云戰; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】微電子學與計算機 2003-11-25

52 適用于掃描測試中的測試響應壓縮電路設計 韓銀和; 李曉維; 李華偉 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院研究生院北京 【期刊】計算機研究與發展 2005-07-16

53 基于雙核掃描鏈平衡的SoC測試調度 胡瑜; 韓銀和; 李華偉; 呂濤; 李曉維 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡室 北京; 中國科學院研究生院北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2005-10-20

54 應用Variable-Tail編碼壓縮的測試資源劃分方法 韓銀和 ; 李曉維 ; 徐勇軍 ; 李華偉 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 北京 【期刊】電子學報 2004-08-25

55 針對串擾引起的時延故障的測試產生 張月; 李華偉; 宮云戰; 李曉維 裝甲兵工程學院信息工程系; 中國科學院計算技術研究所信息網絡研究室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡研究室 北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2004-10-20

56 組合電路功耗敏感性統計分析 徐勇軍 ; 韓銀和 ; 李華偉 ; 李曉維 中國科學院計算技術研究所信息網絡室; 中國科學院研究生院 北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2005-01-20

57 針對線間串擾現象的靜態定時分析 沈培福; 李華偉 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室 北京; 北京師范大學計算機科學與技術系 【期刊】計算機工程與科學 2005-04-30

58 面向存儲器核的內建自測試 檀彥卓 ; 徐勇軍 ; 韓銀和 ; 李華偉 ; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院研究生院 北京 【期刊】計算機工程與科學 2005-04-30

59 雙倍可變觀測點的時滯測試 李華偉; 李忠誠; 閔應驊 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室; 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室 【期刊】電子學報 1999-11-25

60 帶時間參數的測試產生 李華偉; 李忠誠; 閔應驊 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室; 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室 【期刊】計算機學報 1999-04-12

61 基于測量的時延故障診斷 李華偉; 李忠誠; 閔應驊 中國科學院計算技術研究所CAD開放實驗室; 中國科學院計算技術研究所CAD開放實驗室 【期刊】計算機學報 1999-11-12

62 一種面向測試的RTL行為抽象與蘊含方法 尹志剛; 李華偉; 李曉維 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】同濟大學學報(自然科學版) 2002-10-30

63 一款通用CPU的存儲器內建自測試設計 何蓉暉; 李華偉; 李曉維; 宮云戰 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】同濟大學學報(自然科學版) 2002-10-30

64 基于模擬的驗證技術在CPU設計中的應用 呂濤; 李華偉; 李曉維; 樊建平 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】同濟大學學報(自然科學版) 2002-10-30

65 通路時延測試綜述 李華偉; 閔應驊; 李忠誠 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡實驗室 北京 【期刊】計算機工程與科學 2002-04-30

66 通用CPU設計中的模擬驗證技術及應用 呂濤; 李華偉; 尹志剛; 劉國華; 李曉維; 樊建平 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】系統仿真學報 2002-12-20

67 基于RTL行為模型的測試產生及時延測試方法(英) 李華偉; 李忠誠 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】中國科學院研究生院學報 2002-06-30

68 單跳變敏化 李華偉; 李忠誠; 閔應驊 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室; 中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2000-04-01

69 有限狀態機的行為階段聚類及其對測試的應用 李華偉; 閔應驊; 李忠誠 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】中國科學E輯:技術科學 2002-12-20

70 可測試性設計技術在一款通用CPU芯片中的應用 李華偉; 李曉維; 尹志剛; 呂濤; 何蓉暉 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所; 中國科學院計算技術研究所 北京 【期刊】計算機工程與應用 2002-08-15

71 降低時延測試功耗的有效方法 李曉維; 李華偉; 駱祖瑩; 閔應驊 中國科學院計算技術研究所信息網絡研究室; 中國科學院計算技術研究所信息網絡研究室; 清華大學自動化系; 中國科學院計算技術研究所信息網絡研究室 北京 【期刊】計算機輔助設計與圖形學學報 2002-08-20

榮譽獎勵：

1． 2001年獲中國科學院“院長獎學金”特別獎。

2． 2001年獲中國科學院“微軟學者”榮譽稱號。

3． 2002年、2006年獲中國科學院計算所優秀員工獎。

4． 2003年獲中國科學院杰出科技成就獎（龍芯CPU研究集體）。

5． 2004年獲中國科學院計算技術研究所優秀共產黨員榮譽稱號。

6． 2004年獲全國優秀博士學位論文提名獎。

7． 2005年獲SONY Research Award二等獎。

8． 2007年獲北京市科學技術獎（基礎研究類）三等獎。

9． 2008年獲北京市科學技術獎（發明類）三等獎。

10． 2008年獲中國科學院盧嘉錫青年人才獎。

媒體報道：

來自女計算機科學家的光彩——記中科院計算技術研究所李華偉研究員

專家簡介:李華偉,1974年6月出生,工學博士,研究員,博士生導師,中國計算機學會容錯計算專業委員會秘書長,計算機體系結構國家重點實驗室VLSI測試與設計驗證組組長,《計算機輔助設計與圖形學學報》編委。近年來承擔了國家自然科學基金、國家973和863等多個研究項目、龍芯CPU設計驗證與測試等工程項目。在IEEE Trans.on VLSI,J.Electron.Test.,《計算機學報》等國內外刊物和IEEE ITC,VTS,DATE等著名國際學術會議上發表論文100余篇(其中SCI收錄17篇,EI收錄70篇以上),授權發明專利10項;軟件(著作權)登記10件。近十年來先后獲得中科院杰出科技成就獎、中科院盧嘉錫青年人才獎、北京市科學技術獎等榮譽。科廣告界,有一個世界著名品牌的廣告語是:“光彩,來自女性”。在計算機界,劍橋大學計算機女科學家K a r e n Sparck Jones的名言是:“計算機是如此重要,因此不能把它只留給男人去做!”計算機世界如此多嬌,引無數女英雄競折腰。中科院計算技術研究所李華偉研究員就是其中一位。多年從事集成電路設計與測試的CA……

資料更新中……

文章來源：《科學中國人》作者： 樊玉靜 2012年第04期